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Advanced Materials Characterization
Basic Principles, Novel Applications, and Future Directions
Ch Sateesh Kumar, M Muralidhar Singh, Ram Krishna
228,95 €
+ 457 points
Description
The book covers various methods of characterization of advanced materials commonly used in engineering including understanding of the working principle and applicability of devices. Major instruments covered include X-Ray Diffraction, NSOM Raman, X-Ray Photo Spectroscopy, UV-VIS- NIR Spectrosphotometer, FTIR Spectroscopy, and so forth.
Spécifications
Parties prenantes
- Auteur(s) :
- Editeur:
Contenu
- Nombre de pages :
- 130
- Langue:
- Anglais
- Collection :
Caractéristiques
- EAN:
- 9781032375106
- Date de parution :
- 04-05-23
- Format:
- Livre relié
- Format numérique:
- Genaaid
- Dimensions :
- 156 mm x 234 mm
- Poids :
- 381 g
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