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Atom Probe Field Ion Microscopy
M. K. (Metals and Ceramics Division, Metals and Ceramics Divisio, A. (Department of Materials, Department of Materials, University, M. G. Hetherington, G. D. W. (Professor Of Materials Science, Department of Material
323,45 €
+ 646 points
Description
A definitive account of the theory, practice, and applications of atom probe field ion microscopy (APFIM). The APFIM technique provides a unique method for observing and chemically identifying single atoms on solid surfaces. New applications for this technique are rapidly emerging and graduate level material and surface scientists will enjoy this account of the state-of-the-art.
Spécifications
Parties prenantes
- Auteur(s) :
- Editeur:
Contenu
- Nombre de pages :
- 520
- Collection :
Caractéristiques
- EAN:
- 9780198513872
- Date de parution :
- 19-09-96
- Format:
- Livre relié
- Dimensions :
- 164 mm x 242 mm
- Poids :
- 1042 g
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