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Description

Diffuse X-ray scattering is a rich source of local structural information over and above that obtained by conventional crystallography. The book aims to show how computer simulation of a model crystal provides a general method by which diffuse scattering of all kinds and from all types of materials can be interpreted and analysed.

Spécifications

Parties prenantes

Auteur(s) :
Editeur:

Contenu

Nombre de pages :
280
Collection :

Caractéristiques

EAN:
9780199583812
Date de parution :
14-01-10
Format:
Livre broché
Dimensions :
234 mm x 159 mm
Poids :
480 g

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