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Nanoscale Redox Reaction at Metal/Oxide Interface
A Case Study on Schottky Contact and Reram
Takahiro Nagata
83,95 €
+ 167 points
Description
Oxide materials are good candidates for replacing Si devices, which are increasingly reaching their performance limits, since the former offer a range of unique properties, due to their composition, design and/or doping techniques.
Spécifications
Parties prenantes
- Auteur(s) :
- Editeur:
Contenu
- Nombre de pages :
- 89
- Langue:
- Anglais
- Collection :
Caractéristiques
- EAN:
- 9784431548492
- Date de parution :
- 22-05-20
- Format:
- Livre broché
- Format numérique:
- Trade paperback (VS)
- Dimensions :
- 156 mm x 234 mm
- Poids :
- 158 g
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