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Neutron and X-ray Reflectometry

Emerging phenomena at heterostructure interfaces

Saibal Basu, Surendra Singh
Livre relié | Anglais | IOP ebooks
290,45 €
+ 580 points
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Description

This book introduces the techniques of neutron and x-ray reflectometry and presents the studies carried out to date, using the techniques to understand emerging phenomena at the interfaces of thin films.

Spécifications

Parties prenantes

Auteur(s) :
Editeur:

Contenu

Nombre de pages :
200
Langue:
Anglais
Collection :

Caractéristiques

EAN:
9780750346931
Date de parution :
27-12-22
Format:
Livre relié
Format numérique:
Genaaid
Dimensions :
178 mm x 254 mm
Poids :
535 g

Les avis