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Neutron and X-ray Reflectometry
Emerging phenomena at heterostructure interfaces
Saibal Basu, Surendra Singh
290,45 €
+ 580 points
Description
This book introduces the techniques of neutron and x-ray reflectometry and presents the studies carried out to date, using the techniques to understand emerging phenomena at the interfaces of thin films.
Spécifications
Parties prenantes
- Auteur(s) :
- Editeur:
Contenu
- Nombre de pages :
- 200
- Langue:
- Anglais
- Collection :
Caractéristiques
- EAN:
- 9780750346931
- Date de parution :
- 27-12-22
- Format:
- Livre relié
- Format numérique:
- Genaaid
- Dimensions :
- 178 mm x 254 mm
- Poids :
- 535 g
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