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Progress in Transmission Electron Microscopy 2
Applications in Materials Science
105,45 €
+ 210 points
Description
Transmission electron microscopy (TEM) is now recognized as a crucial tool in materials science. This book, authored by a team of expert Chinese and international authors, covers many aspects of modern electron microscopy, from the architecture of novel electron microscopes, advanced theories and techniques in TEM and sample preparation, to a variety of hands-on examples of TEM applications. Volume II illustrates the important role that TEM is playing in the development and characterization of advanced materials, including nanostructures, interfacial structures, defects, and macromolecular complexes.
Spécifications
Parties prenantes
- Editeur:
Contenu
- Nombre de pages :
- 307
- Langue:
- Anglais
- Collection :
- Tome:
- n° 39
Caractéristiques
- EAN:
- 9783642087189
- Date de parution :
- 19-10-10
- Format:
- Livre broché
- Format numérique:
- Trade paperback (VS)
- Dimensions :
- 156 mm x 234 mm
- Poids :
- 458 g
