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Advances in Scanning Probe Microscopy

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Description

This book will be of interest to all those involved in using scanning probe microscopy and will help point the way towards new applications. Of particular interest is the manipulation of single atoms for producing future single-electron devices.

Spécifications

Parties prenantes

Editeur:
Springer

Contenu

Nombre de pages :
343
Langue:
Anglais
Collection :
Advances in Materials Research
Tome:
n° 2

Caractéristiques

EAN:
9783540667186
Date de parution :
27-03-00
Format:
Livre relié
Format numérique:
Genaaid
Dimensions :
156 mm x 234 mm
Poids :
680 g

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