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In Situ Characterization of Thin Film Growth
222,45 €
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Description
Part one reviews electron diffraction techniques, including the methodology for taking observations and measurements. Part two covers photoemission techniques; the principles and instrumentation. Part three contains alternative in-situ characterisation techniques and the trend for combining different techniques.
Spécifications
Parties prenantes
- Editeur:
Contenu
- Nombre de pages :
- 296
- Collection :
Caractéristiques
- EAN:
- 9781845699345
- Date de parution :
- 05-10-11
- Format:
- Livre relié
- Dimensions :
- 167 mm x 234 mm
- Poids :
- 580 g
Les avis
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