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Thermally Activated Mechanisms in Crystal Plasticity
247,45 €
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Description
Contains data from a range of techniques, including synchrotron radiation X-ray topography that provide safer and surer methods of identifying deformation mechanisms. This book also informs the direction of research in intermediate and high temperature processes by providing original treatment of dislocation climb.
Spécifications
Parties prenantes
- Editeur:
Contenu
- Nombre de pages :
- 452
- Collection :
Caractéristiques
- EAN:
- 9780080427034
- Date de parution :
- 08-09-03
- Format:
- Livre relié
- Dimensions :
- 250 mm x 179 mm
- Poids :
- 900 g
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