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Three-Dimensional X-Ray Diffraction Microscopy

Mapping Polycrystals and Their Dynamics

Henning Friis Poulsen
Livre broché | Anglais | Springer Tracts in Modern Physics | n° 205
210,95 €
+ 421 points
Format
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Description

Three-dimensional x-ray diffraction (3DXRD) microscopy is a novel experimental method for structural characterisation of polycrystalline materials. The position, morphology, phase, strain and crystallographic orientation of hundreds of grains or sub-grain embedded within mm-cm thick specimens can be determined simultaneously. Furthermore, the dynamics of the individual structural elements can be monitored during typical processes such as deformation or annealing.

The book gives a comprehensive account of the methodology followed by a summary of selected applications. The method is presented from a mathematical/crystallographic point-of-view but with sufficient hands-on details to enable the reader to plan his or her own experiments. The scope of applications includes work in materials science and engineering, geophysics, geology, chemistry and pharmaceutical science.

Spécifications

Parties prenantes

Auteur(s) :
Editeur:

Contenu

Nombre de pages :
156
Langue:
Anglais
Collection :
Tome:
n° 205

Caractéristiques

EAN:
9783662145432
Date de parution :
03-10-13
Format:
Livre broché
Format numérique:
Trade paperback (VS)
Dimensions :
156 mm x 234 mm
Poids :
249 g

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